- 产品介绍
产品概述
JB4040型 β、γ检测仪,适用于低水平β、γ辐射表面污染检测,同时也适用与X、γ辐射剂量率的监测。仪器采用进口盖革探测器,具有较高的探测效率;是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行β辐射表面污染检测或X,γ辐射防护监测的理想仪器,该仪器采用单片机控制,LCD液晶显示,读数清晰、操作方便。
特点
技术规格
JB4040型 β、γ检测仪,适用于低水平β、γ辐射表面污染检测,同时也适用与X、γ辐射剂量率的监测。仪器采用进口盖革探测器,具有较高的探测效率;是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行β辐射表面污染检测或X,γ辐射防护监测的理想仪器,该仪器采用单片机控制,LCD液晶显示,读数清晰、操作方便。
特点
- GM探测器阵列,探测效率高
- 便携式设计,重量轻
- 单片机控制,软件功能强
- LCD液晶显示,会话式操作界面
- 计数率显示CPM、CPS、μSv/h
- 电池失效报警
技术规格
- 计数范围:1~106
- 探测器面积:25cm2
- 灵 敏 度:≥500 CPM/μSv/h
- 剂量率范围:0.01~200.00µSv/h
- 仪器本底:每分钟计数≤130 CPM
- 相对误差:测量范围内相对基本误差≤20%
- 供电电源:2节1.5v普通5号电池,整机电流≤50mA
- 温度范围:-10℃~45℃
- 湿度范围:相对湿度≤90%(40℃)
- 尺寸重量:0.64kg;23×13×4.5(cm)